SOC710SW 短波紅外成像光譜儀是一款高質(zhì)量、高性能的儀器,光譜范圍為900nm~1700nm。
SOC710SW具有高光譜分辨率 (5 nm), 輕度光譜失真 (<1.5 nm)成像分光計和高靈敏度的InGaAs 探測器 (D* = 1.5e13 √cm-Hz/W),使得SOC710SW可以14-bit同時收集640像素、128個波段的光譜信息。這保證了所有應用里,獲得的是最高質(zhì)量數(shù)據(jù)。
使用簡單和實時處理
SOC710SW是一個完整的系統(tǒng),開箱之后即可使用。
系統(tǒng)采用SOC的HyperSpect™ 操作軟件和HSAnalysis™校準和分析工具進行標定和使用前設(shè)置。
數(shù)據(jù)以開放的BIL二進制格式保存,可以兼容第三方分析軟件。無需額外的掃描儀或軟件。
可選的SOC MIDIS™處理器以最優(yōu)的電腦速度快速執(zhí)行光譜處理,克服了大部分成像光譜儀在實時數(shù)據(jù)處理方面的瓶頸。
MIDIS處理器具有多個相關(guān)通道同時監(jiān)測測量數(shù)據(jù)和三光譜積分,使得MIDIS處理器有能力克服當今數(shù)據(jù)處理的難題。
配備了一個高質(zhì)量的成像分光計、標定和分析軟件、高速低噪InGaAs線列和完整的掃描系統(tǒng),SOC-710SW通過高速USB接口可以記錄 900nm到1700nm光譜范圍內(nèi)、5nm分辨率的高質(zhì)量光譜成像數(shù)據(jù)。靈敏度高于1.5x1013cmHz/W(1550nm)。
SOC的HS分析軟件可以用來進行標定和數(shù)據(jù)分析。記錄的數(shù)據(jù)格式為開放式的二進制數(shù)據(jù),可以很容易的用第三方分析軟件打開,如ENVI軟件。無須數(shù)據(jù)格式轉(zhuǎn)換。
技術(shù)參數(shù):
光譜范圍: | 900-1700 nm |
光譜分辨率: | 5 nm |
光譜通道: | 128 |
光譜失真: | <1.5 microns (smile) |
數(shù)字光圈: | F/2.4 |
TFOV/IFOV (35MM): | 10°/0.015625° |
分辨率(像素): | 640640 (nominal) |
LINE RATE: | 30 Spatial Lines/Second |
CUBE RATE: | 20 Seconds/Cube |
數(shù)字分辨率: | 14-bit |
三腳架: | 3/8”-16 |
計算機接口: | USB2.0 |
掃描: | 內(nèi)置 |
供電: | AC/12DV |
重量: | 10 lbs. |
尺寸: | 5”x8”x11” |
應用領(lǐng)域:
機械視覺 電子學和塑膠 晶片檢查 農(nóng)業(yè)品質(zhì) 化學過程控制 農(nóng)業(yè)領(lǐng)域 精準農(nóng)業(yè) 土地分類 水份脅迫 作物健康 |
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